10月25日，由金沙2004路线js5主办，中国工程院信息与电子工程学部、中国计量科学研究院、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所、中国测试技术研究院、苏州慧利仪器有限责任公司联合主办，国际光学工程学会金沙2004路线js5学生分会协办的“平面计量国际研讨会”在金沙2004路线js5成功举行。
本次研讨会的特点是高聚焦和国际化。出席会议的有研讨会主席中国工程院院士庄松林、中国工程院院士李同保、中国工程院外籍院士和澳大利亚两院院士顾敏，研讨会执行主席金沙2004路线js5教授张大伟，程序委员会专家金沙2004路线js5教授韩森、德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret、英国南安普顿大学教授John Mcbride、德国斯图加特大学主任Pedrini Giancarlo、俄罗斯应用物理科学研究所Dmitry Silin、中国测试技术研究院副所长冉庆、福建省计量科学研究院王朝阳、中国计量科学研究院康岩辉、苏州市计量测试院主任郭郑来，和特邀报告人长春光学精密机械物理研究所副所长张学军等14人，还有参会嘉宾共计100余人。
会议首先由中国工程院院士庄松林致开幕辞。随后，大会主题报告第一阶段开始，由中国工程院院士李同保主持，德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret、长春光学精密机械与物理研究所副所长张学军和上海新昇半导体科技有限公司计量开发处长冯天分别带来了“Traceable Flatness Metrology of optics and optical wavefront at PTB”、“Measurement issues of large optical flat mirrors”和“干涉仪在半导体单晶硅片检测上的应用”的主题报告。
中国工程院院士李同保主持大会
德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret作报告
长春光机所副所长张学军作报告
大会主题报告第二阶段由德国联邦物理技术研究所主任Gerd Ehret，金沙2004路线js5教授韩森、上海光学精密机械研究所研究员刘世杰和长春光学精密机械与物理研究所研究员苏东奇分别带来了“Application of Laser Interferometer in Flatness Metrology and Industrial Inspection”、“Novel absolute measurement method for the reference flat of a 600-mm aperture interferometer”和“Sub-nanometer optical testing and fabrication”的主题报告。
金沙2004路线js5教授韩森作报告
大会主题报告第三阶段由英国南安普顿大学教授John Mcbride主持，英国南安普顿大学教授John Mcbride、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所主任何学军、俄罗斯应用物理科学研究所博士Dmitry Silin和中国科学院光电技术研究所研究员候溪分别带来了“Characterising the Influence of Repeatable and Unrepeatable Systematic Flatness Errors in Confocal Surface Metrology”、“大口径平面平晶绝对检测方法比对”、“The Design and Characteristics of a IAPRAS 630-mm Phase-Shifting Interferometer”和“超高精度平面和平板面形/波前干涉检测技术研究”的主题报告。
英国南安普顿大学教授John Mcbride作报告
俄罗斯应用物理科学研究所博士Dmitry Silin作报告
大会主题报告第四阶段由金沙2004路线js5教授韩森主持，德国斯图加特大学主任Pedrini Giancarlo、中国测试技术研究院副所长冉庆、金沙2004路线js5博士后王浩宇和金沙2004路线js5讲师万新军分别带来了“Digital holography for erosion measurement under extreme environmental conditions inside the ITER tokamak”、“移相平面等厚干涉仪测量不确定度分析（即仪器示值误差分析）”、“The infuence of mirror defects and surface metrology in the gravitational wave detector Advanced LIGO”和“光滑平面及自由曲面快速三维轮廓测量仪器研发”的主题报告。
德国斯图加特大学主任Pedrini Giancarlo作报告
中国测试技术研究院副所长冉庆作报告
本次研讨会聚焦计量技术领域最新发展、热点话题、关键挑战等问题，推动计量测试技术发展，为专家学者们献上了一场丰富的学术盛宴，也促进了与会专家学者们的相互了解，交流与合作。
与会专家讨论交流
与会专家参观大口径干涉仪实验室
与会专家参观超净干涉仪实验室
国际研讨会合影留念